导电材料的体积电阻率测量

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测量导电材料的体积电阻率

使用4探针法测量体积电阻率、表面电阻率和电导率

■要点

4探针法是指使用带有4根探针的测试线,从通过4端子法测量到的电阻值中,

算出体积电阻率、表面电阻率(薄层电阻)的方法。

电阻计RM3545通过4针探头和PC应用软件能够实现4探针的测量。

PC软件可以从我司提供的4探针测试线套装中附带的CD-R中安装。

有两种类型的4探针,针间距1.5mm和针距5.0mm.

通过PC软件可以测量矩形的样品以及圆柱形的样品。

可测量的单位包括体积电阻率、表面电阻率和电导率。作为参考也可以选择电阻值。

●输入样品的尺寸和要测量的坐标位置,软件会自动算出补偿系数并显示。

显示测量履历,测试结果的CSV保存等,使用软件的便利性。

●以基本精度0.006% ,最高分辨率0.01μN ( RM3545的参数)来测量低电阻值。从而获得高精度的体积电阻率。

■配置

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